光谱分析仪

CETC(中电科) AV6362光谱分析仪

时间:2017-02-19 新闻来源:本站原创 阅读:  次

CETC(中电科)   AV6362光谱分析仪 


产品综述

AV6362光谱分析仪采用世界上先进的双通光栅单色仪、高分辨率直接驱动衍射光栅、光学楔形延迟消偏振、数字滤波等技术研制而成。整机性能指标达到国际同类产品先进水平。适用于6001700nm波段范围的LEDLDSLDDFB-LDEDFA、光纤、光纤光栅、光学滤波器、光纤放大器、波分复用器等光电子元器件及有关系统的测试

 

主要特点

● 70dB动态范围
● -90dBm电平测量灵敏度
● PMD测试
● WDM测试
● 测试数据存储输出
● 跟踪可调谐激光源测量
● 调制光测量

高动态范围
        AV6362型光谱分析仪具有高动态范围测试模式,在此模式下,距峰值波长±1nm范围内,动态范围可达70dB。

-90dBm电平测量灵敏度
        通过低噪声放大、杂散光抑制、数字滤波等技术,极大地降低了仪器噪声,提高了信噪比,电平测量灵敏度在1250nm~1600nm波段优于-90dBm。

自动PMD测试

WDM测试
        WDM测量分析信噪比(SNR),各个波峰之间的波长间隔、电平差异等重要参数。最多可以检测到300个波峰。

测试数据存储输出
        光谱测试数据可用.bmp或.txt格式文件存储和输出。

跟踪可调谐激光源测量
        仪器可以对可调谐光源进行跟踪测量。跟踪测量和可调谐光源的波长输出由光谱分析仪控制。发送波长端(可调谐光源)和接收端(光谱分析仪)可以进行同步测量。

调制光测量
        调制光测量可用于监测调制光。通过输入一个与调制信号同步的外部触发信号,可以测量调制光。

 

典型应用

        LED、SLD、ASE、FP-LD、DFB-LD光谱波形分析